Skaningowy mikroskop elektronowy z podwójną wiązką elektronowo-jonową (dual-beam). - pl-wrocław: skanujące mikroskopy elektronowe

Opis przedmiotu przetargu: dostawa wraz z montażem, uruchomieniem i przeszkoleniem personelu, następującej aparatury naukowo – badawczej, fabrycznie nowej i kompletnej skaningowy mikroskop elektronowy z podwójną wiązką elektronowo jonową (dual beam), kompatybilny do pracy z próbkami biologicznymi zamrożonymi pod wysokim ciśnieniem, ze zintegrowanym działem jonowym typu zogniskowanej wiązki jonowej do technik abrazyjnych, pozostającym w układzie dual beam ze źródłem elektronów typu emisji polowej, z działem elektronowym z termiczną emisją polową fe z katody schott ky’go. skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową fe sem, przeznaczony do obrazowania w zakresie wysokich rozdzieczości, wysokich i niskich napięć, posiadający optymalne parametry dla zastosowań analitycz nych. platforma mikroskopu może zostać rozbudowana o zastosowania w ramach trójwymiarowego obrazo wania i analizy zarówno materiałów przewodzących, jak i nieprzewodzących, poprzez dodanie różnych ele mentów, jak system iniekcji gazów (gis), selektywny detektor elektronów wstecznie rozproszonych (esb), system kompensacji ładunku (cc). ii.1.6)