Dostawa bezstykowego przyrządu do pomiarów topografii powierzchni

Opis przedmiotu przetargu: 1. Przedmiotem zamówienia jest dostawa bezstykowego przyrządu do pomiarów topografii powierzchni, nowego lub używanego (nie starszego niż 6 lat) dla jednostki organizacyjnej Akademii Techniczno - Humanistycznej w Bielsku-Białej - Laboratorium Metrologii. 2. Charakterystyka oraz minimalne parametry przedmiotu zamówienia: 2.1. Komponenty systemu: - Granitowa podstawa 500x300 mm ze statywem L=300 mm ze grubną i dokładną adjustacją realizowaną za pomocą dwóch pokręteł, - Głowica pomiarowa z układem optycznym, z wbudowanym interferometrem Mirau, pozycjonerem piezoelektrycznym o zakresie 100µm, - Obiektyw o powiększeniu 10 X (pole robocze 1,6 mm x 1,2 mm), - Obiektyw o powiększeniu 20 X (pole robocze 0,8 mm x 0,6 mm) , - Kamera cyfrowa z przetwornikiem obrazu CCD 658 X 494 pikseli typu (Fire-Wire), - Oprogramowanie do pomiarów i oceny topografii powierzchni wraz licencją, - Stacja robocza PC z systemem operacyjnym Windows XP Professional, z interfejsem Fire-Wire, - Monitor 19 cali kolorowy TFT, - Precyzyjny stolik krzyżowy zakresie przesuwu osi X = Y = 15 mm (śruby mikrometryczne), w zakresie dostawy: łapy dociskowe do mocowania obiektu mierzonego oraz 2 kamienie teowe ze śrubami do mocowania na płycie granitowej, - Stolik obrotowy do stolika krzyżowego. 2.2 Wymagania dotyczące parametrów technicznych i metrologicznych stanowiska: - Kompaktowe rozmiary, wymiary całkowite nie większe niż 500 mm × 300 mm × 415 mm, - Granitowa podstawa, - Statyw pionowy z regulacją zgrubną i precyzyjną ustawienia, - Zwarta głowica pomiarowa, o masie nie większej niż 1,3 kg i wymiarach nie większych niż 201 mm × 63 mm × 157 mm, - Obiektyw Mirau o powiększeniu 10x i polu obserwacji 1,6 mm × 1,2 mm, odległość robocza 3,6mm, rozdzielczość nie gorsza niż 2,5µm, - Obiektyw Mirau o powiększeniu 20x i polu obserwacji 0,8 mm × 0,6 mm, odległość robocza 3,6mm, rozdzielczość nie gorsza niż 1,25µm, - Rozdzielczość w osi Z, nie gorsza niż 0,1 µm, - Zakres pomiarowy w osi Z: co najmniej 100 µm, - Szum resztkowy Rz podczas pomiaru na płytce interferencyjnej <= 2 nm, - Temperatura pracy/eksploatacji: 5 °C do 40 °C.