Warszawa: Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)


Numer ogłoszenia: 103376 - 2014; data zamieszczenia: 26.03.2014

OGŁOSZENIE O ZAMIARZE ZAWARCIA UMOWY - Dostawy

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).


II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.


II.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia są materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam): stolik do mocowania próbek (9 szt.); IM4000 adapter do SEM (1 szt); Maski tytanowe (5 szt/1op); Anoda (1 szt.); Katoda A (1 szt.); Katoda B (1 szt.); Izolator (1 szt.); Anoda PIN (1 szt.); Podstawa HV PIN (1 szt.); Proszek WCO6 (50 g w opakowaniu - 1 szt.); Igły do mikroskopu (1 szt.).


II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.


II.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): jest mniejsza niż kwoty określone w przepisach wydanych na podstawie art. 11 ust. 8 ustawy.

SEKCJA III: PROCEDURA


Tryb udzielenia zamówienia:
Zamówienie z wolnej ręki


  • 1. Podstawa prawna

    Postępowanie wszczęte zostało na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych.


  • 2. Uzasadnienie wyboru trybu

    dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


NAZWA I ADRES WYKONAWCY KTÓREMU ZAMAWIAJĄCY ZAMIERZA UDZIELIĆ ZAMÓWIENIA

  • COMEF Aparatura Naukowo-Badawcza, ul. Gdańska 30, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.


Warszawa: materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)


Numer ogłoszenia: 121702 - 2014; data zamieszczenia: 09.04.2014

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.


Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 103376 - 2014r.


Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).


II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.


II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
1. Stolik do mocowania próbek 9 (ilość) 2. IM4000 adapter do SEM 1 (ilość) 3. Maski tytanowe 5szt /1op (ilość) 4. Anoda 1 (ilość) 5. Katoda A 1 (ilość) 6. Katoda B 1 (ilość) 7. Izolator 1 (ilość) 8. Anoda PIN 1 (ilość) 9. Podstawa HV PIN 1 10. Proszek WCO6(50g w opakowaniu) 1 (ilość) 11. Igły do mikroskopu 1 (ilość).


II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.

SEKCJA III: PROCEDURA


III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki


III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


  • Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
    nie

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
08.04.2014.


IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.


IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.


IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

  • COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.


IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 45999,48 PLN.


IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ


  • Cena wybranej oferty:
    9048,94


  • Oferta z najniższą ceną:
    9048,94
    / Oferta z najwyższą ceną:
    9048,94


  • Waluta:
    EUR.

ZAŁĄCZNIK I


Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę


  • 1. Podstawa prawna

    Postępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.


  • 2. Uzasadnienia wyboru trybu

    Należy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.

    Dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta


Warszawa: materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)


Numer ogłoszenia: 121702 - 2014; data zamieszczenia: 09.04.2014

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.


Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 103376 - 2014r.


Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).


II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.


II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
1. Stolik do mocowania próbek 9 (ilość) 2. IM4000 adapter do SEM 1 (ilość) 3. Maski tytanowe 5szt /1op (ilość) 4. Anoda 1 (ilość) 5. Katoda A 1 (ilość) 6. Katoda B 1 (ilość) 7. Izolator 1 (ilość) 8. Anoda PIN 1 (ilość) 9. Podstawa HV PIN 1 10. Proszek WCO6(50g w opakowaniu) 1 (ilość) 11. Igły do mikroskopu 1 (ilość).


II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.

SEKCJA III: PROCEDURA


III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki


III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


  • Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
    nie

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
08.04.2014.


IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.


IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.


IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

  • COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.


IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 45999,48 PLN.


IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ


  • Cena wybranej oferty:
    9048,94


  • Oferta z najniższą ceną:
    9048,94
    / Oferta z najwyższą ceną:
    9048,94


  • Waluta:
    EUR.

ZAŁĄCZNIK I


Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę


  • 1. Podstawa prawna

    Postępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.


  • 2. Uzasadnienia wyboru trybu

    Należy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.

    Dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta

Adres: Pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa
woj. mazowieckie
Dane kontaktowe: email: Dominika.Jastrzebska@pw.edu.pl
tel: +48222345927
fax: +48226286075
Termin składania wniosków lub ofert:
- brak -
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: 10337620140
ID postępowania Zamawiającego:
Data publikacji zamówienia: 2014-03-25
Rodzaj zamówienia: dostawy
Tryb& postępowania [WR]: Zamówienia z wolnej ręki
Czas na realizację: -
Wadium: -
Oferty uzupełniające: NIE
Oferty częściowe: NIE
Oferty wariantowe: NIE
Przewidywana licyctacja: NIE
Ilość części: 1
Kryterium ceny: 100%
WWW ogłoszenia:
Informacja dostępna pod:
Okres związania ofertą: 0 dni
Kody CPV
38511000-0 Mikroskopy elektronowe
Wyniki
Nazwa części Wykonawca Data udzielenia Wartość
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam) COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA
Katowice
2014-04-09 38 226,00