Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)
Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia są materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam): stolik do mocowania próbek (9 szt.); IM4000 adapter do SEM (1 szt); Maski tytanowe (5 szt/1op); Anoda (1 szt.); Katoda A (1 szt.); Katoda B (1 szt.); Izolator (1 szt.); Anoda PIN (1 szt.); Podstawa HV PIN (1 szt.); Proszek WCO6 (50 g w opakowaniu - 1 szt.); Igły do mikroskopu (1 szt.)
Warszawa: Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)
Numer ogłoszenia: 103376 - 2014; data zamieszczenia: 26.03.2014
OGŁOSZENIE O ZAMIARZE ZAWARCIA UMOWY - Dostawy
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).
II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.
II.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia są materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam): stolik do mocowania próbek (9 szt.); IM4000 adapter do SEM (1 szt); Maski tytanowe (5 szt/1op); Anoda (1 szt.); Katoda A (1 szt.); Katoda B (1 szt.); Izolator (1 szt.); Anoda PIN (1 szt.); Podstawa HV PIN (1 szt.); Proszek WCO6 (50 g w opakowaniu - 1 szt.); Igły do mikroskopu (1 szt.).
II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.
II.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): jest mniejsza niż kwoty określone w przepisach wydanych na podstawie art. 11 ust. 8 ustawy.
SEKCJA III: PROCEDURA
Tryb udzielenia zamówienia:
Zamówienie z wolnej ręki
1. Podstawa prawnaPostępowanie wszczęte zostało na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004 r. - Prawo zamówień publicznych.
2. Uzasadnienie wyboru trybudostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta
SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
NAZWA I ADRES WYKONAWCY KTÓREMU ZAMAWIAJĄCY ZAMIERZA UDZIELIĆ ZAMÓWIENIA
COMEF Aparatura Naukowo-Badawcza, ul. Gdańska 30, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.
Warszawa: materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)
Numer ogłoszenia: 121702 - 2014; data zamieszczenia: 09.04.2014
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 103376 - 2014r.
Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).
II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.
II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
1. Stolik do mocowania próbek 9 (ilość) 2. IM4000 adapter do SEM 1 (ilość) 3. Maski tytanowe 5szt /1op (ilość) 4. Anoda 1 (ilość) 5. Katoda A 1 (ilość) 6. Katoda B 1 (ilość) 7. Izolator 1 (ilość) 8. Anoda PIN 1 (ilość) 9. Podstawa HV PIN 1 10. Proszek WCO6(50g w opakowaniu) 1 (ilość) 11. Igły do mikroskopu 1 (ilość).
II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.
SEKCJA III: PROCEDURA
III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki
III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
nie
SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
08.04.2014.
IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.
IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.
IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.
IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 45999,48 PLN.
IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ
Cena wybranej oferty:
9048,94
Oferta z najniższą ceną:
9048,94
/ Oferta z najwyższą ceną:
9048,94
Waluta:
EUR.
ZAŁĄCZNIK I
Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę
1. Podstawa prawnaPostępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.
2. Uzasadnienia wyboru trybuNależy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.
Dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta
Warszawa: materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam)
Numer ogłoszenia: 121702 - 2014; data zamieszczenia: 09.04.2014
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 103376 - 2014r.
Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 22 2348729, 2348741, faks 22 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam).
II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.
II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
1. Stolik do mocowania próbek 9 (ilość) 2. IM4000 adapter do SEM 1 (ilość) 3. Maski tytanowe 5szt /1op (ilość) 4. Anoda 1 (ilość) 5. Katoda A 1 (ilość) 6. Katoda B 1 (ilość) 7. Izolator 1 (ilość) 8. Anoda PIN 1 (ilość) 9. Podstawa HV PIN 1 10. Proszek WCO6(50g w opakowaniu) 1 (ilość) 11. Igły do mikroskopu 1 (ilość).
II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.51.10.00-0.
SEKCJA III: PROCEDURA
III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Zamówienie z wolnej ręki
III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
nie
SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
08.04.2014.
IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.
IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.
IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA, {Dane ukryte}, 40-719 Katowice, kraj/woj. śląskie.
IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 45999,48 PLN.
IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ
Cena wybranej oferty:
9048,94
Oferta z najniższą ceną:
9048,94
/ Oferta z najwyższą ceną:
9048,94
Waluta:
EUR.
ZAŁĄCZNIK I
Uzasadnienie udzielenia zamówienia w trybie negocjacji bez ogłoszenia, zamówienia z wolnej ręki albo zapytania o cenę
1. Podstawa prawnaPostępowanie prowadzone jest w trybie zamówienie z wolnej ręki na podstawie art. 67 ust. 1 pkt 1 lit. a ustawy z dnia 29 stycznia 2004r. - Prawo zamówień publicznych.
2. Uzasadnienia wyboru trybuNależy podać uzasadnienie faktyczne i prawne wyboru trybu oraz wyjaśnić, dlaczego udzielenie zamówienia jest zgodne z przepisami.
Dostawa może być świadczona tylko przez jednego dostawcę z przyczyn technicznych o obiektywnym charakterze. Zakup części zamiennych do unikatowej aparatury naukowo-badawczej, jedynej tego typu w kraju, może być oferowany tylko przez autoryzowany serwis producenta. Tylko taki przedstawiciel ma dostęp do specyfikacji technicznej unikatowych części produkowanych tylko do konkretnego urządzenia o ściśle określonych parametrach, znanych tylko przez producenta
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: | 10337620140 |
---|---|
ID postępowania Zamawiającego: | |
Data publikacji zamówienia: | 2014-03-25 |
Rodzaj zamówienia: | dostawy |
Tryb& postępowania [WR]: | Zamówienia z wolnej ręki |
Czas na realizację: | - |
Wadium: | - |
Oferty uzupełniające: | NIE |
Oferty częściowe: | NIE |
Oferty wariantowe: | NIE |
Przewidywana licyctacja: | NIE |
Ilość części: | 1 |
Kryterium ceny: | 100% |
WWW ogłoszenia: | |
Informacja dostępna pod: | |
Okres związania ofertą: | 0 dni |
Kody CPV
38511000-0 | Mikroskopy elektronowe |
Wyniki
Nazwa części | Wykonawca | Data udzielenia | Wartość |
---|---|---|---|
materiały eksploatacyjne do urządzenia do wykonywania przekrojów poprzecznych wiązką jonów IM 4000 oraz materiały eksploatacyjne do Skaningowego Mikroskopu Jonowego (FIB-Focused Ion Beam) | COMEF APARATURA NAUKOWO-BADAWCZA Katowice | 2014-04-09 | 38 226,00 |
Barometr Ryzyka NadużyćRaport końcowy na temat potencjalnego ryzyka nadużyć dla wskazanej części wyniku postępowania przetargowego. Data udzielenia: 2014-04-09 Dotyczy cześci nr: 1 Kody CPV: 385110000 Ilość podmiotów składających się na wykonawcę: 1 Kwota oferty w PLN: 38 226,00 zł Minimalna złożona oferta: 38 226,00 zł Ilość złożonych ofert: 1 Ilość ofert odrzuconych przez zamawiającego: 0 Minimalna złożona oferta: 38 226,00 zł Maksymalna złożona oferta: 38 226,00 zł |