Dostawa i uruchomienie przyrządu do pomiarów chropowatości i konturów powierzchni.

Opis przedmiotu przetargu: Dostawa i uruchomienie przyrządu do pomiarów chropowatości i konturów powierzchni. Wymagania: 1. Pomiar chropowatości: 1.1. Opis stanowiska: • stanowisko wyposażone w komputer PC z monitorem TFT i kolorową drukarkę oraz standardowymi akcesoriami – klawiatura, mysz komputerowa itp. • minimalna długość pomiarowa X: co najmniej 120mm • prostoliniowość X: co najmniej 0,4 µm na dł. 120 mm • próbkowanie w osi X: co najmniej 10 punktów na mikrometr • możliwość pomiaru przy dowolnie podawanych prędkościach przesuwu w zakresie 0,01 – 3 mm/s • kolumna pomiarowa: o wysokości co najmniej 400 mm, zmotoryzowana • funkcja auto-stop i ochrona przed kolizją kolumny • granitowa płyta pomiarowa o wymiarach minimum 780x500 mm z rowkiem teowym • maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru chropowatości Z: nie mniej niż 1200 µm • minimalna rozdzielczość Z głowicy do pomiaru chropowatości: nie więcej niż 3 nm • co najmniej 4 wielofunkcyjne kombinacje głowic • dodatkowa końcówka toporkowa do pomiaru na ostrzach • promień końcówki pomiarowej: 2 µm • możliwość pomiaru przy głowicy obróconej o 90 stopni wokół osi pionowej • możliwość obrotu głowicy pomiarowej na kolumnie co najmniej +/- 45 stopni • integralny system wibroizolacyjny, • stanowisko powinno być dostarczone wraz ze stalowym wzorcem chropowatości typu C 1.2. Oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środowisku Windows i umożliwiające: • wykonanie profilu i analizę parametrów chropowatości R, falistości W i profilu niefiltrowanego P • wykonanie profilu i analizę parametrów falistości dominującej pierwszej WD1 i drugiej WD2 oraz udziału materiałowego Rk • analizę graficzną profili z uwzględnieniem odległości pomiędzy dowolnymi współrzędnymi • obliczanie parametrów z metody motywów • tworzenie programów pomiarowych • poziomowanie i częściowe poziomowanie profilu • pomiar wszystkich standardowo używanych parametrów i funkcji opisu nierówności powierzchni • powiększanie dowolnego wycinka profilu, łącznie z opcją „zoom w zoomie” • tworzenie indywidualnych interfejsów użytkowników • wycinanie profilu • eksport i import współrzędnych punktów profilu wyciętego i całkowitego w formacie ASCII • analizę Fouriera • pomiar odcinka pomiarowego o dowolnie wybranej długości w zakresie pomiarowym • analizę i wyznaczenie wybranych parametrów zarówno dla pełnego zarejestrowanego odcinka, jak również dla wybranej części zmierzonego profilu • wykorzystanie wszystkich powszechnie stosowanych filtrów stosowanych w pomiarach chropowatości • wprowadzenie tolerancji analizowanych parametrów • wyznaczenie krzywej udziału materiałowego • wyznaczenie krzywej rozkładu amplitudowego • filtrację wielomianowa do minimum 9 stopnia • wykonanie w programie prostej statystyki wyników pomiarów (bez uruchamiania aplikacji zewnętrznych) • wykonanie w programie listy wyników pomiarów (bez uruchamiania aplikacji zewnętrznych) 1.3. Możliwości dalszej rozbudowy o pomiary konturu. System musi mieć możliwość w przyszłości dołożenia modułu do pomiaru konturu o następujących wymaganiach: maksymalny zakres fizyczny głowicy do pomiaru chropowatości Z: nie mniej niż 60 mm minimalna rozdzielczość Z głowicy do pomiaru chropowatości: nie więcej niż 50 nm w całym zakresie pomiarowym 60 mm stała rozdzielczość w całym zakresie pomiarowym ramię automatycznie podnoszone i opuszczane nacisk pomiarowy regulowany możliwość dodatkowego pomiaru mikrokonturu głowicą standardowo wykorzystywaną do pomiaru chropowatości oprogramowanie sterujące i obliczające pracujące w języku polskim, w środo¬wis¬ku Windows i umożliwiające: - obliczanie cech geometrycznych: długości, promienie, kąty, itp. - tworzenie układu referencyjnego - tworzenie elementów wynikowych z cech geometrycznych (punktu przecięcia, linie teoretyczne, itp.) - importu profili nominalnych z plików typu CAD i porównania profilu zmierzonego z nominalnym - przeprowadzenie przez operatora kalibracji (zmiany współczynników) - tworzenia własnych programów pomiarowych - obliczanie elementów specjalnych, np. łuków gotyckich 2. Możliwość rozbudowy o pomiar topografi (3D): 2.1. Musi istnieć możliwość rozbudowy stanowiska o kompleksowy pomiar parametrów chropowatości warstwy wierzchniej w układzie 3D. 2.2. Opis opcji 3D: • maksymalna szerokość pomiaru (oś Y) co najmniej: 50 mm • najmniejszy krok stolika Y: 0,5 µm, 2.3. Rozbudowane oprogramowanie powinno posiadać: • Język polski obsługi, • Poziomowanie: do płaszczyzny LS z całej powierzchni, do płaszczyzny LS z obszaru wybranego, z 3 punktów, • Symetrie: odbicie w X, odbicie w Y, odbicie w Z, • Powiększanie wybranego fragmentu powierzchni • Obroty, • Filtrowanie powierzchni wraz z wizualizacją z wydzieloną chropowatością i falistością w czasie rzeczywistym, • Przecinanie – wyodrębnianie profilu 3D - sposób przecięcia powierzchni: linia pionowa, linia pozioma, linia dowolna, koło, łamana • Konwersja powierzchni w serię profili • Usuwanie kształtu: 2.4. Opcje analityczne w odniesieniu do powierzchni 3D: - Symulacja foto, - Mapa warstwicowa, - Rzut aksonometryczny, - Interaktywna krzywa udziału nośnego, - Pomiar odległości i kątów, - Analiza parametryczna 3D, - Analiza motywów, parametry francuskie 3D, - Wyznaczanie objętości,