Mikroskop świetlny z kamerą
Opis przedmiotu przetargu: Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).
Warszawa: Mikroskop świetlny z kamerą
Numer ogłoszenia: 180504 - 2010; data zamieszczenia: 23.06.2010
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop świetlny z kamerą.
II.1.2) Rodzaj zamówienia:
dostawy.
II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów)..
II.1.4) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:
nie.
II.1.5) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.
II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:
nie.
II.1.7) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:
nie.
II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:
Zakończenie: 31.08.2010.
SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM
III.1) WADIUM
Informacja na temat wadium:
nie dotyczy
III.2) ZALICZKI
Czy przewiduje się udzielenie zaliczek na poczet wykonania zamówienia:
nie
III.3) WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ OPIS SPOSOBU DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA TYCH WARUNKÓW
III. 3.1) Uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.
III.3.2) Wiedza i doświadczenie
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.
III.3.3) Potencjał techniczny
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkunie dotyczy
III.3.4) Osoby zdolne do wykonania zamówienia
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkunie dotyczy
III.3.5) Sytuacja ekonomiczna i finansowa
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.
III.4) INFORMACJA O OŚWIADCZENIACH LUB DOKUMENTACH, JAKIE MAJĄ DOSTARCZYĆ WYKONAWCY W CELU POTWIERDZENIA SPEŁNIANIA WARUNKÓW UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ NIEPODLEGANIA WYKLUCZENIU NA PODSTAWIE ART. 24 UST. 1 USTAWY
-
III.4.1) W zakresie wykazania spełniania przez wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, oprócz oświadczenia o spełnieniu warunków udziału w postępowaniu, należy przedłożyć:- wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w zakresie niezbędnym do wykazania spełniania warunku wiedzy i doświadczenia w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert albo wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy lub usługi zostały wykonane lub są wykonywane należycie
- oświadczenie, że osoby, które będą uczestniczyć w wykonywaniu zamówienia, posiadają wymagane uprawnienia, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień
- opłaconą polisę, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności związanej z przedmiotem zamówienia
III.4.2) W zakresie potwierdzenia niepodlegania wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 ustawy, należy przedłożyć:- oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia
- aktualny odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru, w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert, a w stosunku do osób fizycznych oświadczenie w zakresie art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy
- aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków lub zaświadczenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- aktualne zaświadczenie właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub potwierdzenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- wykonawca powołujący się przy wykazywaniu spełniania warunków udziału w postępowaniu na potencjał innych podmiotów, które będą brały udział w realizacji części zamówienia, przedkłada także dokumenty dotyczące tego podmiotu w zakresie wymaganym dla wykonawcy, określonym w pkt III.4.2.
-
III.4.3) Dokumenty podmiotów zagranicznych
Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, przedkłada:
III.4.3.1) dokument wystawiony w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania potwierdzający, że:
- nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
III.4.3.2) zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego miejsca zamieszkania albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy - wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert - albo oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio miejsca zamieszkania osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, jeżeli w miejscu zamieszkania osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się takiego zaświadczenia
III.7) Czy ogranicza się możliwość ubiegania się o zamówienie publiczne tylko dla wykonawców, u których ponad 50 % pracowników stanowią osoby niepełnosprawne:
nie
SEKCJA IV: PROCEDURA
IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA
IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:
przetarg nieograniczony.
IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT
IV.2.1) Kryteria oceny ofert:
najniższa cena.
IV.2.2) Czy przeprowadzona będzie aukcja elektroniczna:
nie.
IV.3) ZMIANA UMOWY
Czy przewiduje się istotne zmiany postanowień zawartej umowy w stosunku do treści oferty, na podstawie której dokonano wyboru wykonawcy:
nie
IV.4) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
IV.4.1)
Adres strony internetowej, na której jest dostępna specyfikacja istotnych warunków zamówienia:
http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/
Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..
IV.4.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:
22.07.2010 godzina 12:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..
IV.4.5) Termin związania ofertą:
do 21.08.2010.
IV.4.16) Informacje dodatkowe, w tym dotyczące finansowania projektu/programu ze środków Unii Europejskiej:
Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka.
IV.4.17) Czy przewiduje się unieważnienie postępowania o udzielenie zamówienia, w przypadku nieprzyznania środków pochodzących z budżetu Unii Europejskiej oraz niepodlegających zwrotowi środków z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które miały być przeznaczone na sfinansowanie całości lub części zamówienia:
nie
Warszawa: Mikroskop świetlny z kamerą
Numer ogłoszenia: 223600 - 2010; data zamieszczenia: 26.07.2010
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 180504 - 2010r.
Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop świetlny z kamerą.
II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.
II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).
II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.
SEKCJA III: PROCEDURA
III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Przetarg nieograniczony
III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
tak, projekt/program: Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka.
SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
23.07.2010.
IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.
IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.
IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, {Dane ukryte}, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.
IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 184426,23 PLN.
IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ
Cena wybranej oferty:
170000,00
Oferta z najniższą ceną:
170000,00
/ Oferta z najwyższą ceną:
170000,00
Waluta:
PLN.
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: | 18050420100 |
---|---|
ID postępowania Zamawiającego: | |
Data publikacji zamówienia: | 2010-06-22 |
Rodzaj zamówienia: | dostawy |
Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
Czas na realizację: | 40 dni |
Wadium: | - |
Oferty uzupełniające: | NIE |
Oferty częściowe: | NIE |
Oferty wariantowe: | NIE |
Przewidywana licyctacja: | NIE |
Ilość części: | 1 |
Kryterium ceny: | 100% |
WWW ogłoszenia: | http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/ |
Informacja dostępna pod: | Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206). |
Okres związania ofertą: | 31 dni |
Kody CPV
38634000-8 | Mikroskopy optyczne |
Wyniki
Nazwa części | Wykonawca | Data udzielenia | Wartość |
---|---|---|---|
Mikroskop świetlny z kamerą | Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna Warszawa | 2010-07-26 | 170 000,00 |
Barometr Ryzyka NadużyćRaport końcowy na temat potencjalnego ryzyka nadużyć dla wskazanej części wyniku postępowania przetargowego. Data udzielenia: 2010-07-26 Dotyczy cześci nr: 1 Kody CPV: 386340008 Ilość podmiotów składających się na wykonawcę: 1 Kwota oferty w PLN: 170 000,00 zł Minimalna złożona oferta: 170 000,00 zł Ilość złożonych ofert: 1 Ilość ofert odrzuconych przez zamawiającego: 0 Minimalna złożona oferta: 170 000,00 zł Maksymalna złożona oferta: 170 000,00 zł |