Warszawa: Mikroskop świetlny z kamerą


Numer ogłoszenia: 180504 - 2010; data zamieszczenia: 23.06.2010

OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA


II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop świetlny z kamerą.


II.1.2) Rodzaj zamówienia:
dostawy.


II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów)..


II.1.4) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:
nie.


II.1.5) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.


II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:
nie.


II.1.7) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:
nie.



II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:
Zakończenie: 31.08.2010.

SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM


III.1) WADIUM


Informacja na temat wadium:
nie dotyczy


III.2) ZALICZKI


  • Czy przewiduje się udzielenie zaliczek na poczet wykonania zamówienia:
    nie


III.3) WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ OPIS SPOSOBU DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA TYCH WARUNKÓW


  • III. 3.1) Uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.


  • III.3.2) Wiedza i doświadczenie


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.


  • III.3.3) Potencjał techniczny


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • nie dotyczy


  • III.3.4) Osoby zdolne do wykonania zamówienia


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • nie dotyczy


  • III.3.5) Sytuacja ekonomiczna i finansowa


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełniania warunków odbywa się na podstawie analizy wymaganych i dostarczonych przez wykonawcę dokumentów na zasadzie oceny: spełnia/nie spełnia.


III.4) INFORMACJA O OŚWIADCZENIACH LUB DOKUMENTACH, JAKIE MAJĄ DOSTARCZYĆ WYKONAWCY W CELU POTWIERDZENIA SPEŁNIANIA WARUNKÓW UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ NIEPODLEGANIA WYKLUCZENIU NA PODSTAWIE ART. 24 UST. 1 USTAWY


  • III.4.1) W zakresie wykazania spełniania przez wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, oprócz oświadczenia o spełnieniu warunków udziału w postępowaniu, należy przedłożyć:

    • wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w zakresie niezbędnym do wykazania spełniania warunku wiedzy i doświadczenia w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert albo wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy lub usługi zostały wykonane lub są wykonywane należycie
    • oświadczenie, że osoby, które będą uczestniczyć w wykonywaniu zamówienia, posiadają wymagane uprawnienia, jeżeli ustawy nakładają obowiązek posiadania takich uprawnień
    • opłaconą polisę, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności związanej z przedmiotem zamówienia

  • III.4.2) W zakresie potwierdzenia niepodlegania wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 ustawy, należy przedłożyć:

    • oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia
    • aktualny odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru, w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert, a w stosunku do osób fizycznych oświadczenie w zakresie art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy
    • aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków lub zaświadczenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • aktualne zaświadczenie właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub potwierdzenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • wykonawca powołujący się przy wykazywaniu spełniania warunków udziału w postępowaniu na potencjał innych podmiotów, które będą brały udział w realizacji części zamówienia, przedkłada także dokumenty dotyczące tego podmiotu w zakresie wymaganym dla wykonawcy, określonym w pkt III.4.2.
  • III.4.3) Dokumenty podmiotów zagranicznych

    Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, przedkłada:

    III.4.3.1) dokument wystawiony w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania potwierdzający, że:

    • nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
  • III.4.3.2) zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego miejsca zamieszkania albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy - wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert - albo oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio miejsca zamieszkania osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, jeżeli w miejscu zamieszkania osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się takiego zaświadczenia


III.7) Czy ogranicza się możliwość ubiegania się o zamówienie publiczne tylko dla wykonawców, u których ponad 50 % pracowników stanowią osoby niepełnosprawne:
nie

SEKCJA IV: PROCEDURA


IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA


IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:
przetarg nieograniczony.


IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT


IV.2.1) Kryteria oceny ofert:
najniższa cena.


IV.2.2) Czy przeprowadzona będzie aukcja elektroniczna:
nie.


IV.3) ZMIANA UMOWY


Czy przewiduje się istotne zmiany postanowień zawartej umowy w stosunku do treści oferty, na podstawie której dokonano wyboru wykonawcy:
nie


IV.4) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


IV.4.1)
 
Adres strony internetowej, na której jest dostępna specyfikacja istotnych warunków zamówienia:
http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/

Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..


IV.4.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:
22.07.2010 godzina 12:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)..


IV.4.5) Termin związania ofertą:
do 21.08.2010.


IV.4.16) Informacje dodatkowe, w tym dotyczące finansowania projektu/programu ze środków Unii Europejskiej:
Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka.


IV.4.17) Czy przewiduje się unieważnienie postępowania o udzielenie zamówienia, w przypadku nieprzyznania środków pochodzących z budżetu Unii Europejskiej oraz niepodlegających zwrotowi środków z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które miały być przeznaczone na sfinansowanie całości lub części zamówienia:
nie


Warszawa: Mikroskop świetlny z kamerą


Numer ogłoszenia: 223600 - 2010; data zamieszczenia: 26.07.2010

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.


Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 180504 - 2010r.


Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop świetlny z kamerą.


II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.


II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Przedmiotem zamówienia jest dostawa mikroskopu metalograficznego o następujących cechach: -statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania, zapewniający pracę w świetle odbitym i możliwości instalacji układu do światła przechodzącego, z wbudowanym czytnikiem położenia miski obiektywowej, możliwością podpięcia zewnętrznego monitora LCD z funkcją odczytu położenia miski obiektywowej, parametrów oświetlenia i bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; -wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignią zmiany techniki badawczej Jasne/Ciemne Pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na jednej (preferowana przednia) ścianie statywu; -port główny do podłączenia kamery; -nasadka okularowa trójpozycyjna z regulacją rozstawu źrenic; -układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy minimum 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową -lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem oraz wbudowanym odbłyśnikiem z tyłu, zapewniająca intensywność na poziomie nie gorszym niż dla tradycyjnej lampy o mocy 100W; -układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; -przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; -w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; -uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do minimum 100x -w układzie oświetlacza EPI wbudowane kołowe gniazdo filtrów (wbudowane przynajmniej 3 filtry); -miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem rejestracji położenia miski i obiektywów i możliwością odczytu położenia z poziomu oprogramowania; -stolik zmotoryzowany o zakresie ruchu minimum 100x70, wraz ze sterownikiem, możliwością sterowania z poziomu oprogramowania do analizy obrazu i zmotoryzowanym napędem w osi Z z krokiem nie gorszym niż 10nm, kontrolerem współpracującym po złączu USB i joystickiem z wyświetlaczem LCD wskazującym aktualne położenie stolika i osi Z; -wbudowany w statyw układ zasilania o mocy minimum 50W z płynną regulacją natężenia światła; -współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła o dokładności pozycjonowania stołu na poziomie 0.1 mm/obrót; -Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole, Polaryzacja, kontrast Nomarskiego oraz możliwość rozbudowy o światło przechodzące o mocy min 100W w technikach (Jasne Pole, kontrast Nomarskiego, kontrast fazy) i techniki fluorescencyjne; -układ optyki korygowanej do nieskończoności; -obiektyw klasy Epi Plan Fluor dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach Jasne/Ciemne Pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: #obiektyw 5X (NA/WD : 0.15/15.00 mm), #obiektyw 10X (NA/WD : 0.30/12.00 mm), #obiektyw 20X (NA/WD : 0.45/4.00 mm), #obiektyw 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm), #obiektyw 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm), -Możliwość rozbudowy o inne obiektywy do światła odbitego; -Wyposażenie mikroskopu w gniazdo do instalacji wzorców (np. wielkość ziarna, podziałka mikrometryczna) wprowadzanych w pole widzenia; -Rejestracja obrazu z wykorzystaniem kamery cyfrowej z oprogramowaniem o następujących cechach użytkowych: a) Matryca CCD o rozdzielczości nie mniejszej niż 5 mln efektywnych pikseli; b) Możliwość podłączenia obiektywów makro poprzez złącze C; c) Czas ekspozycji przynajmniej w zakresie 1/1000 - 60 sekund; d) Kontrola ekspozycji: Automatyczna; Ręczna; e) Możliwość wykonania Balansu Bieli; f) Możliwość wykonywania zdjęć poklatkowych; g) Cyfrowy zoom w zakresie przynajmniej 10% - 2000%; h) Pomiar ekspozycji z całego pola, oraz punktowy; i) Regulowany zakres pola pomiaru ekspozycji; j) Regulacja: Jasności, Kontrastu, Korekcji Gamma; k) Rozdzielczość zapisu: 2560x1920; 1280x960; 640x480 pikseli; l) Format zapisu (minimum): BMP, TIFF, JPEG; m) Przesył obrazu do komputera na żywo z szybkością określoną dla każdej rozdzielczości i nie mniejsza niż: 2560 x 1920 - 5 klatek/sekundę,1280 x 960 - 7 Klatek/sekundę, 640 x 480 - 10 Klatek/sekundę; n) Możliwość przesyłania obrazu do komputera za pomocą złącza USB 2.0; o) Wbudowany port Host USB do podłączenia z mikroskopem. Zapis i analiza obrazu zarejestrowanego przez kamerę z wykorzystaniem dostarczonej dedykowanej stacji roboczej z monitorem o przekątnej minimum 17 cali oraz preinstalowanego oprogramowania umożliwiającego: - Pełne sterowanie kamerą - rozdzielczości, balans bieli, wzmocnienia, sposób pomiaru ekspozycji; - Optyczne skanowanie 3D mikroskopem - zbieranie obrazów z dowolnej liczby sąsiadujących pól przy jednoczesnym pobieraniu stosu zdjęć w osi Z dla pojedynczego pola - obraz wielkoformatowy z kształtem powierzchni; - W menu sterowania kamera wbudowany zestaw gotowych ustawień kontrastu w tym dla światła odbitego w tym - Jasne pole, Ciemne pole, DIC, metalografia; - Zapis i podgląd na żywo we wszystkich rozdzielczościach oferowanych przez kamerę; - Możliwość prowadzenia pomiarów obrazu, dokonywanie przeliczeń na wybrane parametry stereologiczne; - Archiwizacja i wizualizacja wyników w postaci tabel i wykresów, - Pojedyncze (stop-klatka) i sekwencyjne pobieranie obrazu (klatki obrazu w ustalonych odstępach czasowych); - Możliwość składania obrazów wielkoformatowych próbek nie mieszczących się w polu widzenia danego obiektywu przy zachowaniu wszystkich parametrów optycznych, oraz w obrazie wielkoformatowym automatyczne obliczanie i kompensowanie w przypadku niezbyt dokładnego ustawienia następnego pola i wyświetlenie zakładki z ostatnim obrazem, wraz z funkcją kompensacji nieostrości w pojedynczym polu widzenia i składania zdjęć 3D; - Możliwość klasyfikowania obiektów po kolorze (min. 8 klas) z możliwością ich późniejszej automatycznej analizy; - Automatyczna analiza obrazu kolorowego w 256 odcieniach każdej składowej RGB i czarno-białego w 256 odcieniach szarości; - histogram jasności obrazu i jego wybranych fragmentów, - binaryzacja obrazu w reprezentacji przynajmniej RGB, - automatyczne i ręczne selekcjonowanie obiektów do pomiaru, - zliczanie obiektów (automatyczne i manualne), - automatyczne i manualne pomiary przynajmniej takich parametrów jak: pole powierzchni, długości, średnice (średnia, Fereta), obwód, kąt, środek ciężkości, wydłużenia, współczynników kształtu; - wykonywanie profil jasności wzdłuż linii prostej, dwu linii równoległych i krzywej, - edycja obrazu (wstawianie, kopiowanie, wycinanie, przesuwanie, obracanie obrazu i jego fragmentów, zoom, nanoszenie wskaźników, znaczników, belek skali), funkcje filtracji obrazu kolorowego i binarnego (wygładzanie, wyostrzanie, retusz, erozja, dylatacja, otwarcie, zamknięcie, czyszczenie, wypełnianie otworów, rozdzielanie sklejonych obiektów, filtracja obiektów o określonej jasności i inne), - łatwa kalibracja obrazu w jednostkach metrycznych w sposób ręczny i całkowicie automatyczny z wykorzystaniem stolika zmotoryzowanego, - automatyczna kontrola balansu bieli w całym polu, - kompensacja obrazu pod katem wybranego pola obrazu - znacznik, - statystyka przeprowadzonych pomiarów (średnia, odchylenie standardowe, minimum, maksimum i odpowiednie wykresy z ich dalszą edycją; liczba wielkości ze wspomnianą wyżej statystyką, gęstość i udział procentowy obiektów w polu lub wybranych polach), - zapis obrazu (przynajmniej formaty JPEG, BMP, TIFF), - wydruk obrazu z jego podglądem na obszarze papieru, - moduł 3D do składania i analizy obrazów 3D z funkcją automatycznego składania zdjęć o dużej głębi, pomiarów 3D i animacji składania obrazu w pojedynczym polu widzenia jak i również dla obszaru o powierzchni minimum 30 x 30 pól - praca w środowisku Windows XP i Vista 32 i 64 bit, oraz Windows 7. Gwarancja minimum 24 miesiące. W cenie musi być ujęta dostawa, montaż oraz podstawowe przeszkolenie z obsługi mikroskopu z przynależnymi elementami peryferyjnymi (lamera, oprogramowania do rejestracji i analizy obrazów).


II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.

SEKCJA III: PROCEDURA


III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Przetarg nieograniczony


III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


  • Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
    tak, projekt/program: Zakup finansowany ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego w ramach Programu Operacyjnego Innowacyjna Gospodarka.

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
23.07.2010.


IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.


IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.


IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

  • Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, {Dane ukryte}, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.


IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 184426,23 PLN.


IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ


  • Cena wybranej oferty:
    170000,00


  • Oferta z najniższą ceną:
    170000,00
    / Oferta z najwyższą ceną:
    170000,00


  • Waluta:
    PLN.

Adres: Pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa
woj. mazowieckie
Dane kontaktowe: email: Dominika.Jastrzebska@pw.edu.pl
tel: +48222345927
fax: +48226286075
Termin składania wniosków lub ofert:
2010-07-21
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: 18050420100
ID postępowania Zamawiającego:
Data publikacji zamówienia: 2010-06-22
Rodzaj zamówienia: dostawy
Tryb& postępowania [PN]: Przetarg nieograniczony
Czas na realizację: 40 dni
Wadium: -
Oferty uzupełniające: NIE
Oferty częściowe: NIE
Oferty wariantowe: NIE
Przewidywana licyctacja: NIE
Ilość części: 1
Kryterium ceny: 100%
WWW ogłoszenia: http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/
Informacja dostępna pod: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).
Okres związania ofertą: 31 dni
Kody CPV
38634000-8 Mikroskopy optyczne
Wyniki
Nazwa części Wykonawca Data udzielenia Wartość
Mikroskop świetlny z kamerą Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna
Warszawa
2010-07-26 170 000,00