Warszawa: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu


Numer ogłoszenia: 230166 - 2010; data zamieszczenia: 29.07.2010

OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA


II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu.


II.1.2) Rodzaj zamówienia:
dostawy.


II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX.


II.1.4) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:
nie.


II.1.5) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.


II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:
nie.


II.1.7) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:
nie.



II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:
Zakończenie: 30.10.2010.

SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM


III.1) WADIUM


Informacja na temat wadium:
nie dotyczy


III.2) ZALICZKI


  • Czy przewiduje się udzielenie zaliczek na poczet wykonania zamówienia:
    nie


III.3) WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ OPIS SPOSOBU DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA TYCH WARUNKÓW


  • III. 3.1) Uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ


  • III.3.2) Wiedza i doświadczenie


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ


  • III.3.3) Potencjał techniczny


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ


  • III.3.4) Osoby zdolne do wykonania zamówienia


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • nie dotyczy


  • III.3.5) Sytuacja ekonomiczna i finansowa


    Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunku

    • Ocena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ


III.4) INFORMACJA O OŚWIADCZENIACH LUB DOKUMENTACH, JAKIE MAJĄ DOSTARCZYĆ WYKONAWCY W CELU POTWIERDZENIA SPEŁNIANIA WARUNKÓW UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ NIEPODLEGANIA WYKLUCZENIU NA PODSTAWIE ART. 24 UST. 1 USTAWY


  • III.4.1) W zakresie wykazania spełniania przez wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, oprócz oświadczenia o spełnieniu warunków udziału w postępowaniu, należy przedłożyć:

    • wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w zakresie niezbędnym do wykazania spełniania warunku wiedzy i doświadczenia w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert albo wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy lub usługi zostały wykonane lub są wykonywane należycie
    • opłaconą polisę, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności związanej z przedmiotem zamówienia

  • III.4.2) W zakresie potwierdzenia niepodlegania wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 ustawy, należy przedłożyć:

    • oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia
    • aktualny odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru, w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert, a w stosunku do osób fizycznych oświadczenie w zakresie art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy
    • aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków lub zaświadczenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • aktualne zaświadczenie właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub potwierdzenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • wykonawca powołujący się przy wykazywaniu spełniania warunków udziału w postępowaniu na potencjał innych podmiotów, które będą brały udział w realizacji części zamówienia, przedkłada także dokumenty dotyczące tego podmiotu w zakresie wymaganym dla wykonawcy, określonym w pkt III.4.2.
  • III.4.3) Dokumenty podmiotów zagranicznych

    Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, przedkłada:

    III.4.3.1) dokument wystawiony w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania potwierdzający, że:

    • nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
    • nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
  • III.4.3.2) zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego miejsca zamieszkania albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy - wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert - albo oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio miejsca zamieszkania osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, jeżeli w miejscu zamieszkania osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się takiego zaświadczenia


III.7) Czy ogranicza się możliwość ubiegania się o zamówienie publiczne tylko dla wykonawców, u których ponad 50 % pracowników stanowią osoby niepełnosprawne:
nie

SEKCJA IV: PROCEDURA


IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA


IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:
przetarg nieograniczony.


IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT


IV.2.1) Kryteria oceny ofert:
cena oraz dodatkowe kryteria i ich znaczenie:

  • 1 - Cena - 60
  • 2 - Parametry techniczne - 20
  • 3 - Gwarancja i serwis - 20


IV.2.2) Czy przeprowadzona będzie aukcja elektroniczna:
nie.


IV.3) ZMIANA UMOWY


Czy przewiduje się istotne zmiany postanowień zawartej umowy w stosunku do treści oferty, na podstawie której dokonano wyboru wykonawcy:
nie


IV.4) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


IV.4.1)
 
Adres strony internetowej, na której jest dostępna specyfikacja istotnych warunków zamówienia:
http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/

Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).


IV.4.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:
10.08.2010 godzina 12:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).


IV.4.5) Termin związania ofertą:
do 09.09.2010.


IV.4.17) Czy przewiduje się unieważnienie postępowania o udzielenie zamówienia, w przypadku nieprzyznania środków pochodzących z budżetu Unii Europejskiej oraz niepodlegających zwrotowi środków z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które miały być przeznaczone na sfinansowanie całości lub części zamówienia:
nie


Warszawa: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu


Numer ogłoszenia: 257822 - 2010; data zamieszczenia: 19.08.2010

OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy


Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.


Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.


Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 230166 - 2010r.


Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.

SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY


I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.


I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.

SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA


II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu.


II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.


II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX.


II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.

SEKCJA III: PROCEDURA


III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Przetarg nieograniczony


III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE


  • Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
    nie

SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA


IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
19.08.2010.


IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.


IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.


IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:

  • Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, {Dane ukryte}, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.


IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 98000,00 PLN.


IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ


  • Cena wybranej oferty:
    97900,00


  • Oferta z najniższą ceną:
    97900,00
    / Oferta z najwyższą ceną:
    97900,00


  • Waluta:
    PLN.

Adres: Pl. Politechniki 1, 00-661 Warszawa
woj. mazowieckie
Dane kontaktowe: email: Dominika.Jastrzebska@pw.edu.pl
tel: +48222345927
fax: +48226286075
Termin składania wniosków lub ofert:
2010-08-09
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: 23016620100
ID postępowania Zamawiającego:
Data publikacji zamówienia: 2010-07-28
Rodzaj zamówienia: dostawy
Tryb& postępowania [PN]: Przetarg nieograniczony
Czas na realizację: 81 dni
Wadium: -
Oferty uzupełniające: NIE
Oferty częściowe: NIE
Oferty wariantowe: NIE
Przewidywana licyctacja: NIE
Ilość części: 1
Kryterium ceny: 60%
WWW ogłoszenia: http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/
Informacja dostępna pod: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206)
Okres związania ofertą: 31 dni
Kody CPV
38634000-8 Mikroskopy optyczne
Wyniki
Nazwa części Wykonawca Data udzielenia Wartość
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna
Warszawa
2010-08-19 97 900,00