Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu
Opis przedmiotu przetargu: Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX
Warszawa: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu
Numer ogłoszenia: 230166 - 2010; data zamieszczenia: 29.07.2010
OGŁOSZENIE O ZAMÓWIENIU - dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej , ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) OKREŚLENIE PRZEDMIOTU ZAMÓWIENIA
II.1.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu.
II.1.2) Rodzaj zamówienia:
dostawy.
II.1.3) Określenie przedmiotu oraz wielkości lub zakresu zamówienia:
Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX.
II.1.4) Czy przewiduje się udzielenie zamówień uzupełniających:
nie.
II.1.5) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.
II.1.6) Czy dopuszcza się złożenie oferty częściowej:
nie.
II.1.7) Czy dopuszcza się złożenie oferty wariantowej:
nie.
II.2) CZAS TRWANIA ZAMÓWIENIA LUB TERMIN WYKONANIA:
Zakończenie: 30.10.2010.
SEKCJA III: INFORMACJE O CHARAKTERZE PRAWNYM, EKONOMICZNYM, FINANSOWYM I TECHNICZNYM
III.1) WADIUM
Informacja na temat wadium:
nie dotyczy
III.2) ZALICZKI
Czy przewiduje się udzielenie zaliczek na poczet wykonania zamówienia:
nie
III.3) WARUNKI UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ OPIS SPOSOBU DOKONYWANIA OCENY SPEŁNIANIA TYCH WARUNKÓW
III. 3.1) Uprawnienia do wykonywania określonej działalności lub czynności, jeżeli przepisy prawa nakładają obowiązek ich posiadania
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ
III.3.2) Wiedza i doświadczenie
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ
III.3.3) Potencjał techniczny
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ
III.3.4) Osoby zdolne do wykonania zamówienia
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkunie dotyczy
III.3.5) Sytuacja ekonomiczna i finansowa
Opis sposobu dokonywania oceny spełniania tego warunkuOcena spełnia/nie spełnia dokonywana na podstawie przedstawienia stosownych dokumentów określonych w SIWZ
III.4) INFORMACJA O OŚWIADCZENIACH LUB DOKUMENTACH, JAKIE MAJĄ DOSTARCZYĆ WYKONAWCY W CELU POTWIERDZENIA SPEŁNIANIA WARUNKÓW UDZIAŁU W POSTĘPOWANIU ORAZ NIEPODLEGANIA WYKLUCZENIU NA PODSTAWIE ART. 24 UST. 1 USTAWY
-
III.4.1) W zakresie wykazania spełniania przez wykonawcę warunków, o których mowa w art. 22 ust. 1 ustawy, oprócz oświadczenia o spełnieniu warunków udziału w postępowaniu, należy przedłożyć:- wykaz wykonanych, a w przypadku świadczeń okresowych lub ciągłych również wykonywanych, dostaw lub usług w zakresie niezbędnym do wykazania spełniania warunku wiedzy i doświadczenia w okresie ostatnich trzech lat przed upływem terminu składania ofert albo wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu, a jeżeli okres prowadzenia działalności jest krótszy - w tym okresie, z podaniem ich wartości, przedmiotu, dat wykonania i odbiorców, oraz załączeniem dokumentu potwierdzającego, że te dostawy lub usługi zostały wykonane lub są wykonywane należycie
- opłaconą polisę, a w przypadku jej braku inny dokument potwierdzający, że wykonawca jest ubezpieczony od odpowiedzialności cywilnej w zakresie prowadzonej działalności związanej z przedmiotem zamówienia
III.4.2) W zakresie potwierdzenia niepodlegania wykluczeniu na podstawie art. 24 ust. 1 ustawy, należy przedłożyć:- oświadczenie o braku podstaw do wykluczenia
- aktualny odpis z właściwego rejestru, jeżeli odrębne przepisy wymagają wpisu do rejestru, w celu wykazania braku podstaw do wykluczenia w oparciu o art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy, wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert, a w stosunku do osób fizycznych oświadczenie w zakresie art. 24 ust. 1 pkt 2 ustawy
- aktualne zaświadczenie właściwego naczelnika urzędu skarbowego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem podatków lub zaświadczenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- aktualne zaświadczenie właściwego oddziału Zakładu Ubezpieczeń Społecznych lub Kasy Rolniczego Ubezpieczenia Społecznego potwierdzające, że wykonawca nie zalega z opłacaniem składek na ubezpieczenie zdrowotne i społeczne, lub potwierdzenie, że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawione nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- wykonawca powołujący się przy wykazywaniu spełniania warunków udziału w postępowaniu na potencjał innych podmiotów, które będą brały udział w realizacji części zamówienia, przedkłada także dokumenty dotyczące tego podmiotu w zakresie wymaganym dla wykonawcy, określonym w pkt III.4.2.
-
III.4.3) Dokumenty podmiotów zagranicznych
Jeżeli wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania poza terytorium Rzeczypospolitej Polskiej, przedkłada:
III.4.3.1) dokument wystawiony w kraju, w którym ma siedzibę lub miejsce zamieszkania potwierdzający, że:
- nie otwarto jego likwidacji ani nie ogłoszono upadłości - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- nie zalega z uiszczaniem podatków, opłat, składek na ubezpieczenie społeczne i zdrowotne albo że uzyskał przewidziane prawem zwolnienie, odroczenie lub rozłożenie na raty zaległych płatności lub wstrzymanie w całości wykonania decyzji właściwego organu - wystawiony nie wcześniej niż 3 miesiące przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
- nie orzeczono wobec niego zakazu ubiegania się o zamówienie - wystawiony nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert
III.4.3.2) zaświadczenie właściwego organu sądowego lub administracyjnego miejsca zamieszkania albo zamieszkania osoby, której dokumenty dotyczą, w zakresie określonym w art. 24 ust. 1 pkt 4-8 ustawy - wystawione nie wcześniej niż 6 miesięcy przed upływem terminu składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu o udzielenie zamówienia albo składania ofert - albo oświadczenie złożone przed notariuszem, właściwym organem sądowym, administracyjnym albo organem samorządu zawodowego lub gospodarczego odpowiednio miejsca zamieszkania osoby lub kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, jeżeli w miejscu zamieszkania osoby lub w kraju, w którym wykonawca ma siedzibę lub miejsce zamieszkania, nie wydaje się takiego zaświadczenia
III.7) Czy ogranicza się możliwość ubiegania się o zamówienie publiczne tylko dla wykonawców, u których ponad 50 % pracowników stanowią osoby niepełnosprawne:
nie
SEKCJA IV: PROCEDURA
IV.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA
IV.1.1) Tryb udzielenia zamówienia:
przetarg nieograniczony.
IV.2) KRYTERIA OCENY OFERT
IV.2.1) Kryteria oceny ofert:
cena oraz dodatkowe kryteria i ich znaczenie:
- 1 - Cena - 60
- 2 - Parametry techniczne - 20
- 3 - Gwarancja i serwis - 20
IV.2.2) Czy przeprowadzona będzie aukcja elektroniczna:
nie.
IV.3) ZMIANA UMOWY
Czy przewiduje się istotne zmiany postanowień zawartej umowy w stosunku do treści oferty, na podstawie której dokonano wyboru wykonawcy:
nie
IV.4) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
IV.4.1)
Adres strony internetowej, na której jest dostępna specyfikacja istotnych warunków zamówienia:
http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/
Specyfikację istotnych warunków zamówienia można uzyskać pod adresem:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).
IV.4.4) Termin składania wniosków o dopuszczenie do udziału w postępowaniu lub ofert:
10.08.2010 godzina 12:00, miejsce: Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206).
IV.4.5) Termin związania ofertą:
do 09.09.2010.
IV.4.17) Czy przewiduje się unieważnienie postępowania o udzielenie zamówienia, w przypadku nieprzyznania środków pochodzących z budżetu Unii Europejskiej oraz niepodlegających zwrotowi środków z pomocy udzielonej przez państwa członkowskie Europejskiego Porozumienia o Wolnym Handlu (EFTA), które miały być przeznaczone na sfinansowanie całości lub części zamówienia:
nie
Warszawa: Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu
Numer ogłoszenia: 257822 - 2010; data zamieszczenia: 19.08.2010
OGŁOSZENIE O UDZIELENIU ZAMÓWIENIA - Dostawy
Zamieszczanie ogłoszenia:
obowiązkowe.
Ogłoszenie dotyczy:
zamówienia publicznego.
Czy zamówienie było przedmiotem ogłoszenia w Biuletynie Zamówień Publicznych:
tak, numer ogłoszenia w BZP: 230166 - 2010r.
Czy w Biuletynie Zamówień Publicznych zostało zamieszczone ogłoszenie o zmianie ogłoszenia:
nie.
SEKCJA I: ZAMAWIAJĄCY
I. 1) NAZWA I ADRES:
Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, ul. Wołoska 141, 02-507 Warszawa, woj. mazowieckie, tel. 022 2348729, 2348741, faks 022 2348514.
I. 2) RODZAJ ZAMAWIAJĄCEGO:
Uczelnia publiczna.
SEKCJA II: PRZEDMIOT ZAMÓWIENIA
II.1) Nazwa nadana zamówieniu przez zamawiającego:
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu.
II.2) Rodzaj zamówienia:
Dostawy.
II.3) Określenie przedmiotu zamówienia:
Mikroskop metalograficzny musi posiadać następujące cechy: a) statyw mikroskopu metalograficznego w układzie odwróconym o konstrukcji odpornej na drgania zapewniający pracę w świetle odbitym, z możliwością podpięcia monitora LCD do bezpośredniego podglądu obrazu z mikroskopu; b) wszystkie pokrętła regulacyjne: przesłona polowa i aperturowa, dźwignia zmiany techniki badawczej jasne/ciemne pole, wskaźnik położenia miski obiektywowej umieszczone na przedniej ścianie statywu; c) port do podłączenia kamery z podziałem światła; d) nasadka okularowa z regulacją rozstawu źrenic; e) możliwość montażu w statywie mikroskopu zmieniacza powiększeń o zakresie od 1x - 2x działającego dla wszystkich portów wyjściowych obrazu, oraz funkcją odczytu aktualnego powiększenia za pomocą oprogramowania do analizy obrazu (automatyczna zmiana kalibracji); f) układ oświetlenia do światła odbitego (EPI) o mocy min. 50W z regulowaną i centrowaną przysłona polową oraz centrowaną przysłoną aperturową; g) lampa oświetlacza o mocy min. 50W z wbudowanym kolektorem odbłyśnikiem z tyłu; h) układ oświetlenia do światłą odbitego z fabrycznie wbudowanym nierozbieralnym układem oświetlenia do jasnego i ciemnego pola (2 zwierciadła) i możliwością instalacji dwóch niezależnych źródeł oświetlenia i filtrów fluorescencyjnych; i) przysłona aperturowa samoczynnie otwierana w czasie przełączania w układzie do światła odbitego na technikę ciemne pole; j) w układzie oświetlacza EPI gniazda do montażu układu polaryzatora i analizatora i kompensatorów; k) uniwersalny pryzmat do Nomarskiego dla obiektywów od 5x do 150x i obiektywów serii extra large working distance od 20x do 50x; l) w układzie oświetlacza EPI wbudowany minimum 4 gniazdowy, kołowy zmieniacz filtrów z wbudowanymi filtrami; minimum 3 typu: NCB11, ND4, ND16; m) miska obiektywowa minimum 5-cio pozycyjna uniwersalna z możliwością instalacji pryzmatu do kontrastu Nomarskiego oraz obiektywów jasnego i ciemnego pola, z systemem kodowania położenia miski i obiektywów i możliwością jej odczytu z poziomu oprogramowania; n) stolik mechaniczny o zakresie ruchu minimum 50x50mm; o) wbudowany w statyw układ zasilania o mocy 50W z płynną regulacją natężenia światła; p) współosiowo ustawiona śruba makro/mikro z układem sprzęgła śruba mikro o dokładności pozycjonowania stołu nie gorszej niż 0.1 mm/obrót; r) Możliwość obserwacji w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole, polaryzacja, kontrast Nomarskiego; s) układ optyki korygowanej do nieskończoności; t) obiektyw klasy Epi Plan Fluor lub Semi-Plan Apochromat dedykowane do pracy w świetle odbitym w technikach jasne/ciemne pole i kontraście Nomarskiego o parametrach nie gorszych niż: - 5X (NA/WD : 0.15/18.00 mm); - 10X (NA/WD : 0.30/15.00 mm); - 20X (NA/WD : 0.45/4.50 mm); - 50X (NA/WD : 0.80/1.00 mm); - 100X (NA/WD : 0.90/1.00 mm). u) Na panelu frontowym mikroskopu gniazdo do instalacji slotów z wielkością ziarna i podziałką milimetrową. Wymagany osprzęt: A. Kamera cyfrowa z oprogramowaniem o następujących parametrach -matryca o rozdzielczości nie mniejszej niż 1280x1024; -tryb pracy w kolorze; -podłączenie za pomocą złącza USB. B. Oprogramowanie pomiarowe umożliwiające: -wstawianie tekstów i opisów na zdjęcie; -możliwość wykonywania ręcznych pomiarów obiektów obrazu; -wskaźnik pomiaru ostrości; -możliwość wstawiania skali i opisów; -funkcja wykonywania automatycznych i ręcznych pomiarów odcisków twardości i mikrotwardości w skali: Vickers, Brinell, Knoop; -eksport wyników pomiarów do plików WORD i EXCEL; -Zestaw komputerowy do pobierania danych, współpracujący z kamerą i oprogramowaniem* Dodatkowe wymagania: Oferent zapewnia szkolenie uwzględniające zasady użytkowania oraz konserwacji urządzenia. * Należy rozumieć jako zestaw składający się z jednostki centralnej, monitora oraz licencjonowanego oprogramowania systemowego. (dopuszcza się dostawę komputera przenośnego typu notebook). Zestaw musi posiadać możliwość importu oraz exportu danych poprzez wymienne nośniki pamięci typu pamięć flash i/lub kartę sieciową w standardzie 100Base-TX.
II.4) Wspólny Słownik Zamówień (CPV):
38.63.40.00-8.
SEKCJA III: PROCEDURA
III.1) TRYB UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
Przetarg nieograniczony
III.2) INFORMACJE ADMINISTRACYJNE
Zamówienie dotyczy projektu/programu finansowanego ze środków Unii Europejskiej:
nie
SEKCJA IV: UDZIELENIE ZAMÓWIENIA
IV.1) DATA UDZIELENIA ZAMÓWIENIA:
19.08.2010.
IV.2) LICZBA OTRZYMANYCH OFERT:
1.
IV.3) LICZBA ODRZUCONYCH OFERT:
0.
IV.4) NAZWA I ADRES WYKONAWCY, KTÓREMU UDZIELONO ZAMÓWIENIA:
- Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna, {Dane ukryte}, 01-934 Warszawa, kraj/woj. mazowieckie.
IV.5) Szacunkowa wartość zamówienia
(bez VAT): 98000,00 PLN.
IV.6) INFORMACJA O CENIE WYBRANEJ OFERTY ORAZ O OFERTACH Z NAJNIŻSZĄ I NAJWYŻSZĄ CENĄ
Cena wybranej oferty:
97900,00
Oferta z najniższą ceną:
97900,00
/ Oferta z najwyższą ceną:
97900,00
Waluta:
PLN.
Dane postępowania
ID postępowania BZP/TED: | 23016620100 |
---|---|
ID postępowania Zamawiającego: | |
Data publikacji zamówienia: | 2010-07-28 |
Rodzaj zamówienia: | dostawy |
Tryb& postępowania [PN]: | Przetarg nieograniczony |
Czas na realizację: | 81 dni |
Wadium: | - |
Oferty uzupełniające: | NIE |
Oferty częściowe: | NIE |
Oferty wariantowe: | NIE |
Przewidywana licyctacja: | NIE |
Ilość części: | 1 |
Kryterium ceny: | 60% |
WWW ogłoszenia: | http://www.ca.pw.edu.pl/zamowienia/ |
Informacja dostępna pod: | Politechnika Warszawska, Wydział Inżynierii Materiałowej, Wołoska 141, 02-507 Warszawa, (pokój 206) |
Okres związania ofertą: | 31 dni |
Kody CPV
38634000-8 | Mikroskopy optyczne |
Wyniki
Nazwa części | Wykonawca | Data udzielenia | Wartość |
---|---|---|---|
Mikroskop metalograficzny w układzie odwróconym z kamerą do rejestracji oraz oprogramowaniem do archiwizacji i analizy obrazu | Precoptic Co. Wojciechowscy Spółka Jawna Warszawa | 2010-08-19 | 97 900,00 |
Barometr Ryzyka NadużyćRaport końcowy na temat potencjalnego ryzyka nadużyć dla wskazanej części wyniku postępowania przetargowego. Data udzielenia: 2010-08-19 Dotyczy cześci nr: 1 Kody CPV: 386340008 Ilość podmiotów składających się na wykonawcę: 1 Kwota oferty w PLN: 97 900,00 zł Minimalna złożona oferta: 97 900,00 zł Ilość złożonych ofert: 1 Ilość ofert odrzuconych przez zamawiającego: 0 Minimalna złożona oferta: 97 900,00 zł Maksymalna złożona oferta: 97 900,00 zł |